VAP Group’un düzenlediği Global Blockchain Show, 12-13 Aralık tarihlerinde ikinci kez Dubai’de kapılarını açarak Blok zincir teknolojisinin geleceğine ışık tutacak etkinlik, küresel çapta önemli isimleri bir araya getiriyor.
Etkinlik, merkeziyetsizlik ve Web3 adaptasyonunun teknolojik entegrasyonu gibi kritik konulara odaklanırken, katılımcılara blok zincirin sektörel işleyişi nasıl dönüştürebileceği konusunda bir yol haritası sunmayı hedefliyor.Ayrıca, sektördeki büyük isimleri tanıtacak ve 3.000’den fazla profesyoneli, 200’den fazla startup ve şirketi ve 100’den fazla küresel yatırımcıyı bir araya getirecek.
Bu yıl, DeFi ve Metaverse’in blok zincir endüstrisini nasıl dönüştürdüğünün tartışılacağı etkinlikte birçok ünlü isim yer alacak.
VAP Group’un Kurucusu ve CEO’su Vishal Parmar, etkinlik hakkında: “Global Blockchain Show, tek bir etkinlikten daha fazlasıdır. Misafirler, blok zinciri teknolojisinin dinamik dünyasını keşfe çıkarken sektörün ‘önemli isimleriyle’ bir araya gelecekleri benzersiz bir deneyim yaşayacaklar.”
Etkinlikte yer alacak isimler:
Etkinliğin dikkat çeken isimleri arasında şunlar yer alıyor:
- Rachel Conan, Binance CMO’su
- Reeve Collins, Tether CEO’su
- Eowyn Chen, Trust Wallet CEO’su
- Janet Adams, SingularityNET COO’su
- David Palmer, Vodafone Digital Asset Broker (DAB) Kurucu Ortağı ve Ürün Müdürü
Ayrıca katılımcılar, Web3 ve AI girişimleri için özel olarak tasarlanmış Dubai platformunda uzmanlarla bir araya gelerek deneyimlerini paylaşma fırsatı bulacaklar.
Diğer Katılımcılar:
- Mert Mumtaz
- H.E. Justin Sun
- Yat Siu
- Ahmed Bin Sulayem
- John Lilic
- Dr. Marwan Alzarouni
- Jason Allegrante
- Sunny Lu
- Abdulla Al Dhaheri
- Alicia Kao
- Shuyao Kong
- Pierre Samaties
- Vineet Budki
- Eljaboom
- Vivien Lin
- Gregorio Maiorano
- Jonathan Bouzanquet
Bu isimler, dijital para birimleri, blok zincir düzenlemeleri ve Web3 oyunları gibi temaları pratik uygulamalarla ele alacak. Ayrıca, etkinlikte çerçeveler, modeller, uygulama rehberleri ve başarı ölçütleri üzerine çarpıcı atölyeler düzenlenecek.
